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AE FP8000 微控四探针测试仪 AE FP8000 Micro-control four-point prober

微控四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备,专用于测试硅单晶的体电阻率,渗杂半导体(如扩散层及异型外延的薄层电阻)以及金属薄层电阻。微控四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备,用于测试硅单晶的体电阻率,渗杂半导体(如扩散层及异型外延的薄层电阻)以及金属薄层电阻

应用领域

PV, POWER , MEMS, IC


产品优势

  • 测量重复性好,电阻率测量具有温度的自动修正。
  • 测量范围广。
  • 抗干扰能力强。
  • 微机自动控制,数据管理功能强,可保存,打印结果。
  • 测量结果可以保存在数据库中,提供多种查询方式。
  • 具有用户管理的功能,方便客户的人员管理。






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