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半导体装备 Semiconductor
AE FP8000 微控四探针测试仪 AE FP8000 Micro-control four-point prober
微控四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备，专用于测试硅单晶的体电阻率，渗杂半导体（如扩散层及异型外延的薄层电阻）以及金属薄层电阻。微控四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备，用于测试硅单晶的体电阻率，渗杂半导体（如扩散层及异型外延的薄层电阻）以及金属薄层电阻
应用领域
集成电路，光伏，功率器件，微机电系统
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